2013 年 10 月31日，北京 --安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布出版《X 参数：非线性射频与微波元器件的表征、建模和设计》，该书阐述了安捷伦突破性的非线性 X 参数测量、建模和仿真技术。该书由剑桥大学出版社出版，包含多个应用实例，是一本向读... 网页链接