一、晶圆制造环节:晶圆制造环节检测设备繁多,KLA份额一家独大晶圆制造环节检测偏物理性,封测环节检测偏电性能半导体检测设备主要用于半导体制造过程中检测芯片性能与缺陷,贯穿于半导体生产过程中,可分为晶 圆制造环节的检测设备和封测环节的检测设备...