演讲预告:利用覆盖可控 ALD, 实现高深宽比接触刻蚀的轮廓控制技术TOKYO ELECTRON 2022-06-08 12:18
中国国际半导体技术大会(CSTIC)由SEMI、IEEE-EDS联合举办,是亚洲规模最大的世界级半导体技术研讨会。今年将于2022年6月14日-7月12日在线上举行。内容涵盖IC设计、器件与集成、光刻、刻蚀、CMP、封装测试、化合物半导体等各项前沿技术。来自TOKYO ELECTRON (TEL)先进工艺研发实验室的Kihara先生,将向大家介绍团队最新的研究成果。
演讲介绍
讲 师: Yoshihede Kihara
题目: Profile Control Technique for High Aspect Contact Etch utilizing Coverage Controllable ALD
Symposium III: Dry & Wet Etch and Cleaning
演讲概要:
在DRAM等存储器件制造中,接触孔和电容器的形成需要用到高深宽比接触(HARC)刻蚀工艺。最新的高深宽比(HAR)刻蚀,存在许多挑战,例如,实现高选择性、避免由堵塞引起的刻蚀停止、抑制弓形临界尺寸(CD) 和扩大底部临界尺寸(CD) [1]。特别是如何平衡弓形CD的抑制和底部CD的扩张,急需替代技术来解决。TEL通过精确控制原子层沉积 (ALD) 的非自限区域,开发了一种用于HAR图案的覆盖可控侧壁钝化新技术。
对孔图案使用常规ALD工艺,SiO2薄膜将完整地沉积在整个表面上,这会导致弓形区域和底部CD的缩减。鉴于沉积反应的饱和程度可以通过氧化的剂量来控制,且SiO2生长周期(GPC)取决于活性氧物质的剂量,由于剂量应该取决于沿图案深度方向的氧自由基传输,而GPC也由深度位置确定,从而可以确定沿深度方向的ALD覆盖。通过优化氧化程度,在HAR图案上实现了覆盖可控侧壁保护沉积,可抑制弓形CD的同时不缩小底部CD。这种新式侧壁保护技术与刻蚀反应的结合,能够实现更灵活的HAR结构刻蚀工艺。通过这种方法,可以在HAR feature中更垂直地刻蚀轮廓。[2],[3]
对于先端图案化所需的半导体微细加工技术,过去利用ALD概念开发了多项极具价值的技术。[4],[5]未来,制造的工艺节点的演进,将带来更大挑战,如何实现精确控制图案结构上的表面反应,变得越来越重要。
参考
[1] Y. Kim et al., Proc. SPIE 942806 (2015)
[2] T. Nishizuka et al., 8th Int. Atomic Layer Etching workshop ALE2021 (2021)
[3] S. Kumakura et al., 42nd Int. Symp. On Dry Process F-3 (2021)
[4] M. Honda et al., J. Phys. D: Appl. Phys. 50, 234002 (2017)
[5] T. Niizeki et.al., 41st Int. Symp. On Dry Process H-3 (2019)